最近内梅亨大学研究人员通过外显子组测序技术鉴定Schinzel-Giedion综合征中的致病突变，文章发表在上个月的《自然-遗传学》（Nature Genetics）上。

Schinzel-Giedion综合征是一种导致严重的智力缺陷、肿瘤高发以及多种先天性畸形的罕见病，大部分患病个体在10岁前死亡，研究者通过捕获四个患病婴儿的外显子组，并测序，四个患病婴儿都发现了SETBP1基因的杂合突变，而他们又利用Sanger测序对婴儿父母的SETBP1基因进行验证，发现这种突变在父母身上不存在，这暗示Schinzel-Giedion是一种由新生突变引起的显性罕见病。

研究人员使用SureSelect和SOLiD对四位患者的外显子组进行测序，平均覆盖度为43倍，读长为50 bp，每个个体产生了2.7-3 GB可作图的序列数据。他们在每个个体中鉴定出5 351个非同义SNP，聚焦于全部四位患者都携带变异体的12个基因，最终将候选基因缩小至1个。

点评: 目前外显子组测序是研究传统的家系分析以及突变筛查没有解决的遗传病的一种好方法，通过类似Schinzel-Giedion综合征研究的方法，可以在花费少量经费的前提下，得到可靠的致病基因和突变。同时外显子组测序比全基因组测序有优势，特别是对单基因疾病，以及针对家系比较小的样本或者散发遗传病样本。外显子组测序的费用更低，数据的阐释也更为简单。

上海天昊遗传分析中心更是设计了一套针对小家系或者散发病人遗传病外显子组测序的全新方案，在外显子组测序的基础上，节约费用，提高效率，具体的方案请详细咨询天昊的业务部和市场部。

参考文献: Nature Genetics doi:10.1038/ng.581 De novo mutations of SETBP1 cause Schinzel-Giedion syndrome.